無源器件測試平臺

簡要描述：性能強大的無源光器件測試平臺，適用于測試WDM器件和光子集成電路

產(chǎn)品型號： CTP10

所屬分類：光無源器件

更新時間：2024-12-16

聯(lián)系我們 在線咨詢

高效地測試全天候運行的無源光器件。以非常高的動態(tài)范圍、速度與分辨率測量插損
（IL）、回損（RL）或偏振相關(guān)損耗（PDL）

迅速對IL、RL或PDL進行波長掃描測量
采用*電子技術(shù)，只需一次掃描便可以實現(xiàn)整個動態(tài)范圍內(nèi)的IL鑒定，是測試頻譜對比度高的器件的理想工具

配備強大、直觀的圖形用戶界面（GUI），便于配置測試和分析測量結(jié)果
支持全波段IL、RL和PDL測量，覆蓋從1240 nm到1680 nm的波長
提供激光器共享功能，在多8個測試臺間共享一個或多個激光器

CTP10是一種模塊化測量平臺，可高效地測試全天候運行的無源器件。該平臺可直接控制一臺或多臺T100S-HP激光器，在幾秒內(nèi)實現(xiàn)高分辨率頻譜鑒定。一臺CTP10可為IL、RL或PDL測量提供波長掃描、數(shù)據(jù)收集與處理、以及曲線顯示與分析功能，從而成為一款非常誘人、易于使用的無源器件測試解決方案。它能夠以高達80 dB的動態(tài)范圍、非常高的速度與分辨率，通過一次掃描便完成插損測量。該平臺可連接多達50個檢測器，成為測試DWDM網(wǎng)中所用大端口數(shù)器件以及光子集成電（PIC）
的理想儀表。它運行功能強大的數(shù)據(jù)處理電子技術(shù)，從而幾乎消除了由數(shù)據(jù)傳輸而導致的任何停機時間。它還配備一個大容量內(nèi)置硬盤，用于直接存儲數(shù)據(jù)和通過兼容SCPI的命令進行全遠程控制。